独立行政法人国立高等専門学校機構 宇部工業高等専門学校

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電気工学科濱田研究室の学生と教員が研究発表賞を受賞しました

NEWS

2018.12.21

平成30年9月4日~5日に福井県の福井市地域交流プラザにて開催された平成30年(第36回)電気設備学会全国大会において専攻科生産システム工学専攻1年の中本健太さんが発表した研究題目『誘導雷サージを印加した太陽電池モジュール用ショットキーバリアダイオードの故障特性』と電気工学科濱田俊之准教授の研究題目『誘導雷サージを印加したSi型ショットキーバリアダイオード及びPN接合ダイオードの故障特性』が電気設備学会全国大会発表奨励賞を受賞し、三谷校長に受賞の報告を行いました。

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受賞報告の様子

受賞について中本さんから、「発表奨励賞を受賞でき嬉しく思います。これも、研究を共に取り組んでくれた仲間や濱田先生のご指導のおかげだと感じております。さらに成果を上げるべく、研究に取り組んで参ります。」とのことでした。受賞した中本さんは、今回の発表や海外で開催された国際会議ICEE2018での英語発表を含めて今年3回もの研究発表を経験しており、今後も中本さんの更なる飛躍を期待します。

今回の受賞した2件の研究課題について解説

クリーンで安全であると一般的に知られている太陽光発電システムの安全性を脅かす故障事例として雷による太陽光発電パネルの内部にある素子(バイパスダイオード)の故障があります。太陽光発電パネル内のバイパスダイオードが故障すると故障したバイパスダイオードが発熱して発火・火災の危険性があります。今回の研究報告では、雷によるバイパスダイオードの故障を実験的に再現して発火の危険性の高い故障状態となる雷の条件を検討した結果を報告するとともに、現在バイパスダイオードとして広く用いられているシリコンショットキーバリア型よりも高い逆耐電圧を持つPN接合ダイオードをバイパスダイオードに用いた場合の雷安全性について検討したものです。この研究は、これまで普及のため、あまりスポットの当たっていなかった再生可能エネルギーの安全性に注目した研究であり、一般家庭用から事業用まで幅広いユーザーと運用者が関わる太陽光発電システムの安全性向上に寄与することから電気設備に関する重要な研究課題であるとして高い評価と注目を受けました。

なお、受賞した研究課題は、高等専門学校機構第4ブロック研究推進モデル校である本校の研究推進テーマ(エネルギー)であるとともに、国立研究開発法人新エネルギー・産業技術総合開発機構(NEDO)委託事業『太陽光発電システム効率向上・維持管理技術開発プロジェクト』の一部であり、産業技術総合研究所と宇部を含む中国地方4高専(大島、津山、米子)の研究者と共同で研究に取り組んでいます。

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受賞を記念して


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